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平晶

具有两个（或一个）光学测量平面的正圆柱形或长方形的量规。

平面

平面是指空间中到两点距离相同的点的轨迹。平面公式为A*(x-x0)+B*(y-y0)+C*(z-z0)=0，其定义为与固定点(x0,y0,z0)的连线垂直于固定方向（A,B,C）的所有的点的集合。这两种定义在数学上是一致的。

相关问答

什么是平面平晶？

平面度是一种属于形位误差中的形状误差，是表示零件的平面要素实际形状，保持理想平面的状况，也就是通常所说的平整程度。
具体指基片具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。公差带是距离为公差值t的两平行平面之间的区域。
平面度的单位是μm。
平面度的最大变动量：
实际表面对平面所允许的最大变动量的是平面度公差，也就是在图样上给定的，用以限制实际表面加工误差所允许的变动范围。
平面度的符号及限制内容：
平面度符号为一平行四边形，是限制实际平面对理想平面变动量的一项指标，它是针对平面发生不平而提出的要求。
参考资料来源：搜狗百科——平面度

平晶的简介

平面平晶用于测量高光洁表面的平面度误差，1级精度的为0.03~0.05微米。
光学测量平面是表面粗糙度数值和平面度误差都极小的玻璃平面，它能够产生光波干涉条纹（见激光测长技术）。平晶用光学玻璃或石英玻璃制造。常用的平晶有平面平晶、长平晶和平行平晶。
平面平晶用于测量高光洁表面的平面度误差，图1a为用平面平晶检验量块测量面的平面度误差。圆柱形平面平晶的直径通常为 45~150毫米。其光学测量平面的平面度误差为：1级精度的为0.03~0.05微米；2级精度的为0.1微米。常见的长方形平面平晶的有效长度一般为200毫米。
用途
平面平晶是用于以干涉法测量块规，以及检验块规、量规、零件密封面、测量仪器及测量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。
适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测。
参考资料来源：搜狗百科-平晶

平面度的介绍

平面度误差是指被测表面对理想平面的变动量，而理想平面的方位应符合最小条件，即其方位应使被测表面对理想平面的最大变动量为最小。
这是什么意思呢？假设我们测得一个面内4点的高度，取其中3点构成一个平面，另一个点偏离这个平面的距离（注意是距离不是高度，也就是说这点到平面的垂线的长度）就是这个点的平面度误差。那么我们取那3个点比较好呢？原则就是要使得取了3个点后，剩下一个点的平面度误差最小。
这是根据形位公差国家标准规定的，是唯一的平面度计算方法，并不存在你所问的“平面度常用的计算方法有几种？”。
如果你问的意思是平面度常用的测量方法，我可以简单介绍一下。
一、标准平面法。这类方法需要实物标准作标准平面。
1.平晶法，又叫等厚干涉法。
2.平板测微仪法。
二、标准直线法。
1.水平面（仪）法。
2.对角线法。
各种方法的详细内容请查阅相关书籍。