1, 表面粗糙度分几个等级？
评定参数：1、高度特征参数。轮廓算术平均偏差Ra，即在取样长度（lr）内轮廓偏距绝对值的算术平均值。轮廓最大高度Rz，即轮廓峰顶线和谷底线之间的距离。在幅度参数常用范围内优先选用Ra 。2、间距特征参数。用轮廓单元的平均宽度Rsm表示。在取样长度内，轮廓微观不平度间距的平均值。微观不平度间距是指轮廓峰和相邻的轮廓谷在中线上的一段长度。 3、形状特征参数。用轮廓支承长度率Rmr(c)表示，是轮廓支撑长度与取样长度的比值。轮廓支承长度是取样长度内，平行于中线且与轮廓峰顶线相距为c的直线与轮廓相截所得到的各段截线长度之和。以上这些都是必须具备的基本参数。表面粗糙度参数的评定依据：1。取样长度取样长度lr是评定表面粗糙度所规定一段基准线长度。规定和选择取样长度是为了限制和减弱表面波纹度和形状误差对表面粗糙度的测量结果的影响。2、评定长度。评定长度ln是评定轮廓所必须的一段长度，它可包括一个或几个取样长度。评定长度ln一般包含5个取样长度lr。 3、基准线。基准线是用以评定表面粗糙度参数的轮廓中线。参考资料：百度百科——表面粗糙度
2, 国家标准中怎样规定粗糙度测量的取样长度
1、高度特征参数轮廓算术平均偏差 Ra：在取样长度（lr）内轮廓偏距绝对值的算术平均值。在实际测量中，测量点的数目越多，Ra越准确。 轮廓最大高度 Rz：轮廓峰顶线和谷底线之间的距离。在幅度参数常用范围内优先选用Ra。在2006年以前国家标准中还有一个评定参数为“微观不平度十点高度”用Rz表示，轮廓最大高度用Ry表示，在2006年以后国家标准中取消了微观不平度十点高度，采用Rz表示轮廓最大高度。2、间距特征参数用轮廓单元的平均宽度 Rsm表示。在取样长度内，轮廓微观不平度间距的平均值。微观不平度间距是指轮廓峰和相邻的轮廓谷在中线上的一段长度。3、形状特征参数用轮廓支承长度率Rmr(c) 表示，是轮廓支撑长度与取样长度的比值。轮廓支承长度是取样长度内，平行于中线且与轮廓峰顶线相距为c的直线与轮廓相截所得到的各段截线长度之和。表面粗糙度测量方法1、比较法将表面粗糙度比较样块（简称样块）根据视觉和触觉与被测表面比较，判断被测表面粗糙度相当于那一数值，或测量其反射光强变化来评定表面粗糙度（见激光测长技术）。样块是一套具有平面或圆柱表面的金属块，表面经磨、车、镗、铣、刨等切削加工，电铸或其他铸造工艺等加工而具有不同的表面粗糙度。有时可直接从工件中选出样品经过测量并评定合格后作为样块。利用样块根据视觉和触觉评定表面粗糙度的方法虽然简便，但会受到主观因素影响，常不能得出正确的表面粗糙度数值。2、印模法在实际测量中，常会遇到深孔，盲孔，凹槽，内螺纹等既不能使用仪器直接测量，也不能使用样板比较的表面，这是常用印模法，印摸法是利用一些无流动性和弹性的塑性材料（如石蜡等）贴合在 被测表面上，将被测表面的轮廓复制成模，然后测量印模，从而来评定被测表面的粗糙度。3、触针法利用针尖曲率半径为2微米左右的金刚石触针沿被测表面缓慢滑行，金刚石触针的上下位移量由电学式长度传感器转换为电信号，经放大、滤波、计算后由显示仪表指示出表面粗糙度数值，也可用记录器记录被测截面轮廓曲线。一般将仅能显示表面粗糙度数值的测量工具称为表面粗糙度测量仪，同时能记录表面轮廓曲线的称为表面粗糙度轮廓仪这两种测量工具都有电子计算电路或电子计算机，它能自动计算出轮廓算术平均偏差Rα，微观不平度十点高度RZ，轮廓最大高度Ry和其他多种评定参数，测量效率高，适用于测量Rα为0.025~6.3微米的表面粗糙度。4、干涉法利用光波干涉原理 （见平晶、激光测长技术）将被测表面的形状误差以干涉条纹图形显示出来，并利用放大倍数高 （可达500倍）的显微镜将这些干涉条纹的微观部分放大后进行测量，以得出被测表面粗糙度。应用此法的表面粗糙度测量工具称为干涉显微镜。这种方法适用于测量Rz和Ry为 0.025~0.8微米的表面粗糙度。5、光切法光线通过狭缝后形成的光带投射到被测表面上，以它与被测表面的交线所形成的轮廓曲线来测量表面粗糙度。由光源射出的光经聚光镜、狭缝、物镜1后，以45°的倾斜角将狭缝投影到被测表面，形成被测表面的截面轮廓图形，然后通过物镜 2将此图形放大后投射到分划板上。利用测微目镜和读数鼓轮先读出h值，计算后得到H值。应用此法的表面粗糙度测量工具称为光切显微镜。它适用于测量RZ和Ry为0.8~100微米的表面粗糙度，需要人工取点，测量效率低。参考资料来源：搜狗百科-表面粗糙度测量参考资料来源：搜狗百科-表面粗糙度
名词解释
长度
长度，是一维空间的度量，为点到点的距离。 通常在量度二维空间中量度直线边长时，称呼长度数值较大的为长，不比其值大或者在“侧边”的为宽。所以宽度其实也是长度量度的一种，故此在三维空间中量度“垂直长度”的高都是。
取样
取样即从目标事物中选择有代表性的样本。通俗解释：从大量物品或材料中抽取少数做样品。
