封闭式光栅尺能有效防尘、防切屑和防飞溅的切削液，是用于机床的理想选择。铝质外壳和密封软条可以保护光栅尺、扫描单元和轨道免受灰尘、切屑和切削液的影响。扫描单元的运动轨道摩擦力很小，轨道内置在光栅尺上。它通过一个连轴器与外部的安装架连接，这个连轴器可以补偿光栅尺和机器轨道之间不可避免的对正误差。 封闭式光栅尺的结构有标准光栅尺外壳适用于振动频率高且最大测量长度为1000mm，还有紧凑光栅尺外壳适用于安装空间小，最大测量长度为600毫米，还有加厚型光栅尺长度可达到3000mm。
MSA
MSA（Measurement System Analysis），是使用数理统计和图表的方法对测量系统的分辨率和误差进行分析，以评估测量系统的分辨率和误差对于被测量的参数来说是否合适，并确定测量系统误差的主要成分。现在，测量系统分析已成为美国三大汽车公司质量体系QS9000的要素之一，是6σ质量计划的一项重要内容。以通用电气(GE)为代表的6σ连续质量改进计划模式即为：确认(Define)、测量(Measure)、分析(Analyze)、改进(Improve)和控制(Control)，简称DMAIC。
电磁干扰
电磁干扰（ElectromagneticInterference，EMI）是干扰电缆信号并降低信号完好性的电子噪音，EMI通常由电磁辐射发生源如马达和机器产生。电磁干扰是人们早就发现的电磁现象，它几乎和电磁效应的现象同时被发现，1981年英国科学家发表“论干扰”的文章，标志着研究干扰问题的开始。1989年英国邮电部门研究了通信中的干扰问题，使干扰问题的研究开始走向工程化和产业化。
光栅
由大量等宽等间距的平行狭缝构成的光学器件称为光栅（grating）。一般常用的光栅是在玻璃片上刻出大量平行刻痕制成，刻痕为不透光部分，两刻痕之间的光滑部分可以透光，相当于一狭缝。精制的光栅，在1cm宽度内刻有几千条乃至上万条刻痕。这种利用透射光衍射的光栅称为透射光栅，还有利用两刻痕间的反射光衍射的光栅，如在镀有金属层的表面上刻出许多平行刻痕，两刻痕间的光滑金属面可以反射光，这种光栅称为反射光栅。
